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Hot News / 热点新闻
2015 - 03 - 26
点击次数: 326
•1949 菲利浦电子光学成立 •1971 FEI成立,主要生产聚焦离子束产品 •1996 菲利浦收购ElectroScan (环境扫描技术) •1997 菲利浦电子光学和FEI合并 •1999 FEI和Micrion (聚焦离子束产品)合并
2015 - 03 - 09
点击次数: 295
关于FEI     凭借在显微镜领域 60 多年的创新和领导力,FEI 提供业内最广泛的电子、离子、数字光学显微镜仪器、工作流程和应用专业知识。FEI 解决方案帮助全球客户解决问题、取得突破性发现、加速上市时间、获得有竞争力的优势。凭借电子、生命科学、材料科学和自然资源市场领域的丰富的解决问题的经验,FEI能够帮助客户从全新视角看待挑战,不论是小而简单的挑战...
2014 - 12 - 29
点击次数: 350
瑞典皇家科学院宣布,将2014年诺贝尔化学奖授予埃里克·白兹格(Eric Betzig)、斯蒂芬·黑尔(Stefan W. Hell)和威廉·莫尔纳(William E. Moerner),以表彰他们为发展超高分辨率荧光显微镜所作的贡献。获奖理由很长时间以来,人们都认为光学显微技术无法突破一条极限:它永远不可能获得比所用光的半波长更高的分辨率,这被称为“阿贝衍射极限”...
2015 - 03 - 30
点击次数: 294
2015年3月30日 ,徕卡纳米技术部专家莅临深圳市新则兴科技有限公司,为新则兴相关技术人员和市场人员全面培训徕卡电镜样品制备全套解决方案以及剖析各种电镜制样设备的功能特点和行业应用趋势,尤其是对超薄切片、组织处理、高压冷冻、镀膜、临界点干燥、机械研磨抛光、离子束研磨、冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段进行了深入的阐述和研讨,培训取得了不错的效果并圆满完成。
2014 - 12 - 10
点击次数: 129
资料图:中国材料学先驱颜鸣皋先生  颜鸣皋是我国材料科学的先驱、著名材料科学家、金属物理学家、一代宗师、中国航空钛合金创始人、我国航空材料的奠基人。新中国成立之初,颜鸣皋冲破阻挠回到祖国,把毕生精力献给了祖国的航空事业,为国防科技工业做出了卓越贡献。颜鸣皋致力于材料科学研究和航空材料技术体系建设,在钛合金、高温合金、铝合金、先进非金属材料、复合材料、疲劳断裂与寿命分析等领域取得丰硕成果,...
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特点好处 价值  离子束切割 要获得硬的,软的,多孔的,脆的和/或多相复合型材料的高质量截面结构,用于SEM观察或分析(例如EBSD),以及AFM分析,离子束切割几乎是唯一方法 方法简单,使用者无需花太多精力摸索制样条件。 三离子束技术 1、可以制备获得极大区域4x1mm. (其他品牌采用单离子束技术,可获得区域约为 1x1mm)。2、样品无需做摆动运动,即可避免遮挡和再沉积效应。3、样品不需要做运动,使得离子束轰击过程中产生的热被有效传导。避免样品受热损失 1、获得大区域,高效;2、假象少,真实;3、热损失效应少,真实 可容纳样品尺寸可达 50x50x10mm 不用将样品切到非常小,方便操作。(样品本身很小,也可简便操作,带有显微镜) 节约用户的时间 各种类型样品台可供选择 可以选择标准样品台,冷冻样品台,三样品台或旋转样品台。可以与主机一起买,也可后续升级加配。如选配旋转样品台,则不仅可进行离子束切割,还可进行离子束抛光 可根据样品实际需要进行选择 操作简便 设置样品位置的工作非常简单。标配徕卡品牌最好的体视显微镜,用于安装样品和处理过程的观察。徕卡最新型触摸屏控制界面及图形化操作界面设计,可以使操作者凭直觉操作仪器。 大大提高使用者的工作效率 可与EM TXP配套使用 可以将EM TXP与EM TIC 3X打包购买,或是后续升级添置EM TXP 提供样品制备和售后技术服务的全套解决方案
特点 好处  价值   宽场离子束  离子减薄质量好:1、做样平整度高;2、假象少,无非晶层等;离子减薄薄区大:1、便于找到感兴趣的区域2、大大方便做截面样品  为用户做TEM科研工作带来真实、有价值的实验结果  功能多  TEM制样:离子束减薄SEM制样:离子束清洁,离子束抛光,离子束刻蚀EBSD制样:离子束清洁和抛光薄膜样品截面制样:离子束斜坡切割FIB样品:离子清洗  为综合性电镜实验室提供全能服务  全电脑控制  各种功能,通过设定不同参数即可完成。操作参数可编程,可存储。通过精确地工作参数和条件,实现做样结果的可重复性。  有效提高用户工作效率  触摸屏操作  9英才触摸屏,直观的用户操作界面,使操作变得简单直观。  现代化设计理念。有效提高用户工作效率  可与EM TXP配套使用  可以将EM TXP与EM RES102打包购买,或是后续升级添置EM TXP。  提供样品制备和售后技术服务的全套解决方案
特点好处  价值 带有一体化显微观察系统 在样品处理过程中可对目标位点进行实时观察 实现对微小目标(mm和um量级)进行定点样品制备 多种制样手段合为一体 改变制样手段时,不需要将样品从夹具中取出,只需简单改变工具端制样工具,从而实现样品切割、研磨、抛光等及观察于一体 有助于保留目标,使目标不丢失。特别适合于小目标定点制备 带有样品角度校准工具 在样品制备过程中,可对样品进行角度校准(X和Y方向各±5°) 可以对线状或一个目标排列进行精确横向切割及研磨抛光 工具端机械控制精度高,最小达0.5um 机械控制工具前进后退,确保样品抛光后表面是平面,而不是球面。工具步进可设置为 0.5,1,10,100um。 精确的步进控制,有利于准确靠近样品目标位置。小步进,有利于提高样品制备结果。 带有自动样品制备功能,可自动倒计数/倒计时,自动应力反馈机制 降低人工花费的时间。保证样品制备过程中应力可控。 节约时间,提高效率。应力可控,有效提高样品制备结果。应力可控,有利于制备脆性样品(硅、陶瓷等) 可与徕卡其它电镜制样设备 (EM RES102,TIC 3X,UC7)相兼容,配套使用。可为光学显微镜制备样品 客户可以打包购买,或后续技术升级 提供样品制备全套解决方案和全套售后服务
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